Se ha organizado un curso sobre fabricación de circuitos microelectrónicas para el martes 10 de noviembre por la tarde. La primera conferencia se impartirá en inglés y la dos últimas en español. Dr. Michael Moll, director del departamento de detectores del CERN, nos explicará los daños que pueden recibir los circuitos electrónicos bajo el efecto de la radiación. Dr. S. Hidalgo, del Centro Nacional de Microelectrónica, profundizará su conferencia del día anterior sobre fabricación de dispositivos microelectrónicas. Y finalmente, Dr. Perpiñà y Dr. Vellvehi, del Centro Nacional de Microelectrónica, explicarán técnicas de encapsulado de dispositivos electrónicos.
Doctorate Course: Conferences on Electronics for Harsh Environments
Martes 10 de Noviembre de 2020
La conexión se hará a través de la plataforma Blackboard con el siguiente enlace:
https://eu.bbcollab.com/guest/d2a983f87b934eb19d956d683399ea96
La conexión se hará a través de la plataforma Blackboard con el siguiente enlace:
https://eu.bbcollab.com/guest/d2a983f87b934eb19d956d683399ea96
•15:30. “Radiation Damage in Silicon Devices”. Michael Moll, PhD Experimental Physics Department, CERN, Geneva
•16:30. “Silicon devices manufacturing” Dr. Salvador Hidalgo, Centro Nacional de Microelectrónica-Instituto de Microelectrónica de Barcelona, IMB-CNM(CSIC)
•17: 30. “Packaging Techniques for Electronic Components“, Dr. Xavier Jordá, Dr. Xavier Perpiñà and Dr. Miquel Vellvehi. Instituto de Microelectrónica de Barcelona - Centro Nacional de Microelectrónica IMB-CNM(CSIC)
